Numerical and experimental analysis of the static characteristics and noise in ungated recessed MESFET structures

  1. Mateos, J.
  2. González, T.
  3. Pardo, D.
  4. Tadyszak, P.
  5. Danneville, F.
  6. Cappy, A.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Ano de publicación: 1996

Volume: 39

Número: 11

Páxinas: 1629-1636

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/0038-1101(96)00083-4 GOOGLE SCHOLAR
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