Numerical and experimental analysis of the static characteristics and noise in ungated recessed MESFET structures

  1. Mateos, J.
  2. González, T.
  3. Pardo, D.
  4. Tadyszak, P.
  5. Danneville, F.
  6. Cappy, A.
Zeitschrift:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 1996

Ausgabe: 39

Nummer: 11

Seiten: 1629-1636

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0038-1101(96)00083-4 GOOGLE SCHOLAR
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