Monte Carlo analysis of dynamic and noise performance of submicron MOSFETs at RF and microwave frequencies

  1. Rengel, R.
  2. Mateos, J.
  3. Pardo, D.
  4. González, T.
  5. Martín, M.J.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Any de publicació: 2001

Volum: 16

Número: 11

Pàgines: 939-946

Tipus: Article

DOI: 10.1088/0268-1242/16/11/310 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus