Monte Carlo analysis of dynamic and noise performance of submicron MOSFETs at RF and microwave frequencies

  1. Rengel, R.
  2. Mateos, J.
  3. Pardo, D.
  4. González, T.
  5. Martín, M.J.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Ano de publicación: 2001

Volume: 16

Número: 11

Páxinas: 939-946

Tipo: Artigo

DOI: 10.1088/0268-1242/16/11/310 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus