Monte Carlo analysis of dynamic and noise performance of submicron MOSFETs at RF and microwave frequencies

  1. Rengel, R.
  2. Mateos, J.
  3. Pardo, D.
  4. González, T.
  5. Martín, M.J.
Zeitschrift:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Datum der Publikation: 2001

Ausgabe: 16

Nummer: 11

Seiten: 939-946

Art: Artikel

DOI: 10.1088/0268-1242/16/11/310 GOOGLE SCHOLAR
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