Monte Carlo analysis of voltage noise in sub-micrometre semiconductor structures under large-signal regime

  1. Pérez, S.
  2. González, T.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Año de publicación: 2002

Volumen: 17

Número: 7

Páginas: 696-700

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/17/7/311 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus