A microscopic interpretation of the RF noise performance of fabricated FDSOI MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Martin, M.J.
  3. González, T.
  4. Mateos, J.
  5. Pardo, D.
  6. Dambrine, G.
  7. Raskin, J.-P.
  8. Danneville, F.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 53

Nummer: 3

Seiten: 523-532

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TED.2005.863541 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus