A microscopic interpretation of the RF noise performance of fabricated FDSOI MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Martin, M.J.
  3. González, T.
  4. Mateos, J.
  5. Pardo, D.
  6. Dambrine, G.
  7. Raskin, J.-P.
  8. Danneville, F.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Ano de publicación: 2006

Volume: 53

Número: 3

Páxinas: 523-532

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TED.2005.863541 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus