A microscopic interpretation of the RF noise performance of fabricated FDSOI MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Martin, M.J.
  3. González, T.
  4. Mateos, J.
  5. Pardo, D.
  6. Dambrine, G.
  7. Raskin, J.-P.
  8. Danneville, F.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Argitalpen urtea: 2006

Alea: 53

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 523-532

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TED.2005.863541 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus