Hot-carrier fluctuations from ballistic to diffusive regime in submicron semiconductor structures

  1. Varani, L.
  2. Reggiani, L.
  3. Houlet, P.
  4. Vaissiere, J.C.
  5. Nougier, J.P.
  6. Kuhn, T.
  7. Gonzalez, T.
  8. Pardo, D.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Any de publicació: 1994

Volum: 9

Número: 5 S

Pàgines: 584-587

Tipus: Article

DOI: 10.1088/0268-1242/9/5S/050 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus