Hot-carrier fluctuations from ballistic to diffusive regime in submicron semiconductor structures

  1. Varani, L.
  2. Reggiani, L.
  3. Houlet, P.
  4. Vaissiere, J.C.
  5. Nougier, J.P.
  6. Kuhn, T.
  7. Gonzalez, T.
  8. Pardo, D.
Zeitschrift:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Datum der Publikation: 1994

Ausgabe: 9

Nummer: 5 S

Seiten: 584-587

Art: Artikel

DOI: 10.1088/0268-1242/9/5S/050 GOOGLE SCHOLAR