Hot-carrier fluctuations from ballistic to diffusive regime in submicron semiconductor structures

  1. Varani, L.
  2. Reggiani, L.
  3. Houlet, P.
  4. Vaissiere, J.C.
  5. Nougier, J.P.
  6. Kuhn, T.
  7. Gonzalez, T.
  8. Pardo, D.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Ano de publicación: 1994

Volume: 9

Número: 5 S

Páxinas: 584-587

Tipo: Artigo

DOI: 10.1088/0268-1242/9/5S/050 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus