Numerical and experimental analysis of the static characteristics and noise in ungated recessed MESFET structures

  1. Mateos, J.
  2. González, T.
  3. Pardo, D.
  4. Tadyszak, P.
  5. Danneville, F.
  6. Cappy, A.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 1996

Volumen: 39

Número: 11

Páginas: 1629-1636

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0038-1101(96)00083-4 GOOGLE SCHOLAR
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