Monte Carlo analysis of dynamic and noise performance of submicron MOSFETs at RF and microwave frequencies

  1. Rengel, R.
  2. Mateos, J.
  3. Pardo, D.
  4. González, T.
  5. Martín, M.J.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Año de publicación: 2001

Volumen: 16

Número: 11

Páginas: 939-946

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/16/11/310 GOOGLE SCHOLAR
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