A microscopic interpretation of the RF noise performance of fabricated FDSOI MOSFETs

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Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Año de publicación: 2006

Volumen: 53

Número: 3

Páginas: 523-532

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TED.2005.863541 GOOGLE SCHOLAR
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